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膜厚仪高端型X-RAY膜厚分析仪

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    轻巧的设计,半开放式测试算,可容纳大件的PCB产品,功能强大,可配合激光自动对焦,全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。

美国博曼(Bowman) 更配备了半导体电子冷却检测器,令分辩率数倍提高,可测量非常薄的镀层,满足于半导体电子工业的应用。



BOWMAN(博曼)X射线荧光电镀膜厚仪它具有读数准确、稳定性好、操作方便等一系列特点。可广泛用于无损检测、印刷、医疗等多种行业 。每台仪器均随机附有密度片,用于验证仪器的准确度。仪器特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层广泛地应用在pcb厂、电镀厂、电子厂、等检测领域。

X-RAY膜厚测产品特点:

1.新增样品夹阻尼复位设计,使其不易损伤样品。  

2.由于可以保持90°打开状态,较厚样品的定位也变得简单易行。

3.可测量A4尺寸大小的样品的中间部位。

4.总论膜厚测量在X射线和涂料的使用和检测中起一个重要的作用。





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